UM-3高精度测厚仪(已停产)
UM-3超声波测厚仪是本公司生产的第一代针对薄件厚度测量的超声波测厚仪
测量下限0.3mm,精确到小数点后三位;
应用范围: 适合测量平整的薄金属板、玻璃板等
视频链接
UM-3超声波测厚仪是本公司生产的第一代针对薄件厚度测量的超声波测厚仪
测量下限0.3mm,精确到小数点后三位;
应用范围: 适合测量平整的薄金属板、玻璃板等
视频链接



| 屏幕 | 128×64大屏幕点阵液晶显示屏 |
| 测量范围 | 精密模式:0.3~10mm 普通模式:1.5~20mm |
| 示值误差 | 精密模式 ±0.01 H≤3mm ,±0.05 3<H<10mm 普通模式 ±0.05 H<10mm ±(0.5%H+0.01)H≥10mm H为被测材料厚度 |
| 显示分辨率 | 毫米mm:0.001,0.01,0.1 英寸in :0.0001,0.001,0.01 |
| 刷新频率 | 常规:4Hz,最小值扫查:25Hz |
| 声速范围 | 1000~9999m/s |
| 厚度捕获 | 支持最小值捕获功能 |
| 超限报警 | 可设置上下限数值,超过上下限数值报警 |
| 校准值 | 校准值自动存储,关机后不丢失 |
| 存储 | 可存储500个厚度值 |
| 使用环境温度 | 0℃~40℃ |
| 电源 | 5#干电池 |
| 外形尺寸 | 149×73×32mm |
| 重量 | 200g(含电池) |
| 自动关机 | 5分钟无操作自动关机 |


我公司2007年推出使用单晶延迟线探头的手持式精密超声波测厚仪UM-3,采用单晶延迟探头,利用多次回波提高精度,使分辨率可达0.001mm,测量下限达0.30mm 。UM-3具有普通和精密两种工作模式。普通模式采用界面波-回波法,测量范围是 1.5mm~20mm ;精密模式采用回波-回波法,测量范围是 0.30mm~10mm。
仪器特点
1、高精度,0.001mm分辨率
2、适合测量薄材料,可精确可靠的测量0.25mm的平整的薄钢板材料
3、可以穿透涂层,例如材料上的油漆层,无需打磨,可直接测量基体厚度
| 显示屏 | 128×64点阵液晶屏显示(EL背光) |
| 工作原理 | 界面波~回波方式(普通模式) 回波~回波方式(精密模式) |
| 测量范围 | 1.5~20mm (普通模式) 0.3~10mm (精密模式) |
| 单位和显示分辨率 | 毫米-0.001,0.01,0.1 英寸-0.0001,0.001,0.01 |
| 探头零点校准 | 一点校准、两点校准 |
| 示值误差 | ±0.01mm(3mm以下) ±0.05mm (20mm以下) |
| 测量刷新频率 | 常规测量时4Hz,最小值扫查时25Hz |
| 材料声速范围 | 1000~9999m/s 或0.0394~0.3937in/us |
| 存储功能 | 划分5个数组,可存储500个厚度值 |
| 声速存储 | 可存储5种不同材料的声速 |
| 工作语言 | 可选择中文或英文 |
| 电源 | 两节1.5V AA电池,当电量不足时,有低电压提示 |
| 操作时间 | 碱性电池可使用200小时(不使用背光) |
| 自动关机 | 5分钟无操作后自动关机 |
| 工作温度 | -10℃~+50℃,有特殊要求可达-20℃ |
| 尺寸 | 149㎜×73㎜×32㎜ |
| 重量 | 200g(含电池) |
| 标准配置 | UM-3测厚仪、单晶探头、仪器箱、两节碱性电池、耦合剂、操作手册、合格证、装箱单 |

、
▎可选配件
| 实物照片 | 型号 | 频率 | 晶片直径 |
![]() | D15A | 15MHZ | 6mm |
公司地址:辽宁省沈阳市沈北新区蒲河路81-43联东U谷五期U39
电话:15840359140
