GB/T11344-2021无损检测 超声测厚腐蚀管壁厚度怎么测量
一、仪器选型
常规仪器的选择
1）当出现以下情况时，宜采用带A扫描显示的超声波测厚仪/超声波探伤仪（以下简称A扫描仪器）：
2）被测材料表面条件不符合测量要求时（如存在夹杂、氧化层或涂层过厚）；若需从测量结果中去除涂层厚度，应选用支持方法3）的专用仪器。
常规测厚仪无法提供可靠读数。
3）最小厚度定位：在定位给定区域材料最薄点时，优先使用A扫描仪器或A扫描测厚仪
二、超声波测厚探头的选择
1、选择依据
探头类型应根据仪器特性、材料厚度、表面状态及涂层情况综合确定：
2、数字直读式测厚仪：采用制造商指定配套探头；
3、A扫描仪器：按以下优先级选择：
——频率匹配：探头再材料中的波长≥材料厚度的15倍（参见附录D）；
——厚度≥10mm：单晶探头（推荐使用多次回波技术）；
——厚度＜10mm：宜采用双晶超声波探头；
——厚度＜5mm：带特殊焦距的双晶探头或者带延迟线的超声波测厚探头；
——被测产品表面是曲面时,宜选择合适的探头晶片直径满足声耦合要求；
——对有涂层的被测产品,宜选择单晶探头结合方法3进行测量,允许补偿涂层厚度
三、测量
1、测量操作规范
1）多回波测量法（单晶探头）
常规测量
读取多个底面回波(仅单晶探头)时,读取第n个底面回波数值，按公式计算实际厚度：
含涂层测量
测量回波1至回波n的总间距并除以n-1，通过公式可得去除涂层厚度后的基材厚度，公式如下：
2）单回波测量法
仅获取一个底面回波测量时,宜在与仪器标定时相同的回波位置读取读数。若表面存在涂层,则涂层厚度包含在读数中,测量结果应减去涂层厚度。
基材厚度=仪器读数-涂层厚度
注：涂层厚度可使用涂层测厚仪测量
3） 高精度测量要求
测量点记录：高重复性测量须标注并保存测点坐标；
测量最薄点厚度：一般使用带A扫描的超声波测厚仪器（带A扫描显示并能直接显示厚度的超声波测厚仪或者带A扫描显示的超声波探伤仪）进行测厚。
4）数字测厚仪的操作
需要遵循制造商提供的操作手册执行测量。
5）异常数据验证
当材料内部不连续或者有缺陷（如气孔、夹杂）导致测量值异常时，应进行补充检测；如采用斜探头检测进行交叉验证。
