GB/T11344-2021无损检测超声测厚中探头的选择

1.宽频带探头比窄频带探头激发时间更短的脉冲波，具有更好的分辨力，一般用于涂层或薄板的测厚。在测量高衰减材料时，宽频带探头获得更稳定的回波。

2.探头尺寸和频率的选择应能获得较窄的声束宽度，以精确测量限定的区域，并能穿透整个厚度范围。

3. 对于薄的材料，一般使用高阻尼、高频率探头。高频(10MHz或更高)延迟块探头可用于0.6mm 左右厚度钢材料的测量；也可采用小焦距双晶探头进行薄材料的测量。对于双晶探头，焦距范围应覆盖被测产品的厚度范围。

4.当测量较小厚度的产品时，可使用延迟块探头采用方法2或方法3进行测量。当延迟块材料声阻抗较低时,如塑料延迟块放在金属上测量，界面回波产生相位转变，应校正以获得准确的测量结果有些测厚仪具备自动校正功能。

5.当材料表面温度较高,延迟块做为热屏障使用时，延迟块应能承受被测产品的温度。测量前应了解温度对延迟块声特性的影响(声衰减和声速漂移)。探头制造商应提供探头可使用的温度范围和测量温度下的使用时间。

6.根据不同的厚度和材料，探头频率范围可从测量高衰减材料使用的100kHz到测量薄金属片使用的50MHz。

7.如使用双品探头，应对声波传输V型路径的误差进行补偿。通常在测量薄材料时双品探头的传播时间与厚度不再有线性关系，测量的厚度越小,这种非线性越严重。变化示意图见图一)所示，典型的误差值见图二)。

8.在弧面上测量时，应保证探头直径远小于被测区域