超声波测厚仪单晶测厚和双晶测厚的波形解读

通过测量探头发出的超声波信号一次.两次或多次穿过被测材料后的时间来确定被测材料的厚度。厚度通过已知声速与脉冲回波时间的乘积除以穿过次数来计算

d=vt/n

式中:

d：厚度;

v：声速;

t：测量时间;

n：超声波穿过次数。

被测材料声速是材料物理特性的函数。对给定的材料通常假定材料声速是一常数。因成分、处理工艺和测量条件变动的影响,声速表中的数据并不是绝对准确的,但通常情况下如果对误差要求不高可直接使用,也可根据试验重新测定声速。

超声波测厚仪测厚可通过图中A扫描波形图所示的以下四种方法来实现:

1)方法1(单次回波法);测量初始脉冲和第一次底面回波之间的时间,同时对零点进行校正﹔

2)方法2(单次回波延时法):测量延迟块界面波与第一次底面回波之间的时间;

3)方法3(多次回波法):测量多次底面回波之间的时间;

4)方法4(穿透法):测量超声脉冲从发射探头通过被测材料到底面接收探头的时间。

标引序号说明:

A：发射/接收探头;

A1：发射探头;

A2：接收探头;

A3：双晶探头:

B：被测产品;

C:声被传输时间;

D：发射脉冲信号（始波）;

E1、E2, E3：底面回波﹔

F ：界面回波:

G：延迟声程;

H：接收脉冲。